Grip (MGS2-EM)

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  Low-current Measurement Kit

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  Low-current Measurement KitIl Low-current Measurement Kit (LCMK-EM) è un accessorio per la microscopia SEM progettato come supporto per il puntale della sonda, ottimizzato per offrire bassa resistenza e basso rumore. Compatibile con il micromanipolatore MM3A-EM, questo kit migliora le capacità di nanoprobing del sistema, consentendo misurazioni a bassa capacità e bassa corrente su campioni conduttivi.Ha bassa resistenza e rumore ridotto: è perfetto per garantire l’accuratezza nelle misurazioni elettriche di campioni sensibili. È particolarmente utile per studi sui materiali e l’elettronica avanzata, dove le misurazioni a bassa corrente sono fondamentali per caratterizzare le proprietà dei campioni in dettaglio.

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  Large Grip (MTW-EM)

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  Large Grip (MTW-EM)l MTW-EM è un accessorio per la microscopia SEM, progettato come minigripper plug-in per il micromanipolatore MM3A-EM. Questo strumento offre una presa ad alta risoluzione per il trasporto e l’assemblaggio di oggetti di macrodimensioni, estendendo le capacità del micromanipolatore per la manipolazione di campioni più grandi. Ideale per la movimentazione di oggetti di macrodimensioni, garantisce stabilità e precisione durante il trasporto e l’assemblaggio. Questo accessorio migliora la capacità di assemblaggio e trasferimento di campioni, risultando essenziale in scienza dei materiali e nanotecnologia per applicazioni che richiedono un controllo preciso e affidabile.

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  iProbe Module

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  iProbe ModuleL’iProbe Module è un accessorio per la microscopia SEM che offre un controllo avanzato e intuitivo di fino a dodici micromanipolatori su sei ordini di grandezza. Questo software consente un controllo tridimensionale del movimento: il mouse gestisce i movimenti sugli assi X e Y, mentre un jog dial consente di controllare l’asse Z, per un’esperienza di utilizzo fluida e familiare. La risposta al movimento è dinamica, migliorando la sensibilità e la precisione durante la manipolazione dei campioni. Perfetto per settori come la nanotecnologia e la scienza dei materiali, questo modulo fornisce un’esperienza di controllo avanzata e intuitiva, migliorando l’efficienza e la precisione delle operazioni SEM.

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  Gas injection system (GIS-EM)

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  Gas injection system (GIS-EM) Il GIS-EM è un accessorio per la microscopia SEM progettato come sistema plug-in di iniezione di gas per il micromanipolatore MM3A-EM.
  Questo sistema avanzato consente di iniettare vari gas direttamente nella camera SEM, offrendo nuove possibilità per la preparazione e l’analisi dei campioni. Si integra perfettamente con il micromanipolatore per offrire funzionalità estese nella microscopia SEM e permette l’introduzione di diversi tipi di gas nella camera SEM, ideale per applicazioni che richiedono ambienti modificati o reattivi. Il GIS-EM è un accessorio fondamentale per chi cerca di espandere le capacità del proprio sistema SEM, rendendo possibili esperimenti avanzati in scienza dei materiali e nanotecnologia.