Grip (MGS2-EM)Il MGS2-EM è un accessorio per la microscopia SEM, progettato come plug-in di micropinze per il micromanipolatore MM3A-EM. Questo strumento fornisce una soluzione di presa ad alta risoluzione, ideale per il trasporto e l’assemblaggio di oggetti di piccole dimensioni all’interno della camera SEM. Si integra facilmente con il micromanipolatore, ampliando le funzionalità per una manipolazione precisa. Progettato per garantire una presa sicura e precisa, è essenziale per lavori di microassemblaggio e trasferimento di campioni delicati.
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iProbe Module
iProbe ModuleL’iProbe Module è un accessorio per la microscopia SEM che offre un controllo avanzato e intuitivo di fino a dodici micromanipolatori su sei ordini di grandezza. Questo software consente un controllo tridimensionale del movimento: il mouse gestisce i movimenti sugli assi X e Y, mentre un jog dial consente di controllare l’asse Z, per un’esperienza di utilizzo fluida e familiare. La risposta al movimento è dinamica, migliorando la sensibilità e la precisione durante la manipolazione dei campioni. Perfetto per settori come la nanotecnologia e la scienza dei materiali, questo modulo fornisce un’esperienza di controllo avanzata e intuitiva, migliorando l’efficienza e la precisione delle operazioni SEM.
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Microheating Cooling Stage for the Prober Shuttle PS8
Microheating Cooling Stage for the Prober Shuttle PS8 Il Microheating Cooling Stage è un substage per il Prober Shuttle (PS8) che aggiunge la capacità di riscaldare e raffreddare i campioni durante l’analisi. Questo sistema integrato di raffreddamento, riscaldamento e rilevamento, mantiene la temperatura impostata con precisione, utilizzando il controllo avanzato della temperatura incluso. Consente di impostare profili di temperatura, registrare punti di regolazione e salvare i valori misurati, facilitando il monitoraggio e la ripetibilità delle condizioni. Questo accessorio per la microscopia SEM è ideale per studi che richiedono un’analisi termica dei campioni, come quelli in scienza dei materiali e microelettronica. Il controllo preciso della temperatura rende il Microheating Cooling Stage uno strumento indispensabile per esperimenti che richiedono condizioni termiche variabili e ripetibili.
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Heating Illumination Probing Workstation
Heating Illumination Probing WorkstationLa HIP WorkStation è una versione avanzata della MM3A-EM Probe Station, dotata di funzionalità aggiuntive di riscaldamento e illuminazione. Come la MM3A-EM, questa workstation supporta fino a otto micromanipolatori MM3A-EM e include un substage a lungo raggio con una corsa di 30 mm nelle direzioni X e Y.
Per una maggiore precisione, il substage può essere dotato di encoder di posizione con ripetibilità di 50 nm. Altre opzioni sono la possibilità di aggiungere un Asse Z opzionale con un intervallo di corsa di 3 mm, per consentire un posizionamento tridimensionale preciso, oppure la possibilità di sostituirlo con uno stadio di riscaldamento che può raggiungere temperature fino a 450°C, ideale per applicazioni che richiedono un controllo termico diretto sul campione.
La HIP WorkStation è un accessorio per microscopia SEM utile in esperimenti che richiedono una combinazione di manipolazione, riscaldamento e illuminazione. -
Micro-cleaning System (MCS)
Micro-cleaning System (MCS)Il Micro-cleaning System (MCS-EM) è un accessorio per la microscopia SEM costituito da un sistema plug-in di microvalvole progettato per il micromanipolatore MM3A-LMP. È ideale quindi per estendere le funzionalità del micromanipolatore, aggiungendo una capacità di pulizia delicata e controllata. Questo sistema consente infatti la rimozione non distruttiva di particelle indesiderate da superfici delicate, migliorando la qualità delle analisi senza danneggiare i campioni. Il MCS-EM è ideale per laboratori di microscopia elettronica a scansione (SEM) che richiedono una soluzione delicata e precisa per la pulizia dei campioni. È particolarmente utile in applicazioni di scienza dei materiali e nanotecnologia, dove la rimozione accurata di contaminanti è essenziale per garantire un’analisi accurata delle superfici.
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