Micromanipolatori per Microscopia Ottica

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  Low-current Measurement Kit

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  Low-current Measurement KitIl Low-current Measurement Kit (LCMK-EM) è un accessorio per la microscopia SEM progettato come supporto per il puntale della sonda, ottimizzato per offrire bassa resistenza e basso rumore. Compatibile con il micromanipolatore MM3A-EM, questo kit migliora le capacità di nanoprobing del sistema, consentendo misurazioni a bassa capacità e bassa corrente su campioni conduttivi.Ha bassa resistenza e rumore ridotto: è perfetto per garantire l’accuratezza nelle misurazioni elettriche di campioni sensibili. È particolarmente utile per studi sui materiali e l’elettronica avanzata, dove le misurazioni a bassa corrente sono fondamentali per caratterizzare le proprietà dei campioni in dettaglio.

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  Intuitive LiftOut Software – iLO

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  Intuitive LiftOut Software – iLOL’Intuitive LiftOut Software (iLO) è un accessorio per la microscopia SEM che offre un’interfaccia utente grafica intuitiva, progettata per facilitare le operazioni di lift-out durante la preparazione dei campioni. Con iLO, gli utenti possono posizionare con precisione la punta del micromanipolatore o della micropinza sul campione, sollevarlo e collegarlo al recipiente o alla posizione desiderata con facilità. È ideale per laboratori di microscopia elettronica a scansione (SEM) che richiedono un controllo preciso durante il trasferimento e il posizionamento dei campioni. Perfetto per applicazioni di scienza dei materiali e nanotecnologia, iLO migliora significativamente l’efficienza e l’accuratezza dei processi di preparazione dei campioni SEM.

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  Force Measurement System

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  Force Measurement SystemIl Force Measurement System completa la NanoWorkstation, offrendo una soluzione avanzata per la misurazione della forza su piccoli campioni. Dotato di punte per la misurazione della forza (FMT), il sistema è progettato per eseguire prove precise di trazione e compressione, risultando ideale per studi dettagliati sulle proprietà meccaniche dei materiali. Questo accessorio per la microscopia Sem è particolarmente indicato per laboratori che necessitano di una caratterizzazione dettagliata delle proprietà meccaniche, di materiali innovativi e strutture complesse. Grazie alle sue capacità di misurazione in-situ, il sistema è essenziale per comprendere le risposte dei materiali sotto stress meccanico diretto.

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  Heating Illumination Probing Workstation

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  Heating Illumination Probing WorkstationLa HIP WorkStation è una versione avanzata della MM3A-EM Probe Station, dotata di funzionalità aggiuntive di riscaldamento e illuminazione. Come la MM3A-EM, questa workstation supporta fino a otto micromanipolatori MM3A-EM e include un substage a lungo raggio con una corsa di 30 mm nelle direzioni X e Y.
  Per una maggiore precisione, il substage può essere dotato di encoder di posizione con ripetibilità di 50 nm. Altre opzioni sono la possibilità di aggiungere un Asse Z opzionale con un intervallo di corsa di 3 mm, per consentire un posizionamento tridimensionale preciso, oppure la possibilità di sostituirlo con uno stadio di riscaldamento che può raggiungere temperature fino a 450°C, ideale per applicazioni che richiedono un controllo termico diretto sul campione.
  La HIP WorkStation è un accessorio per microscopia SEM utile in esperimenti che richiedono una combinazione di manipolazione, riscaldamento e illuminazione.