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SuperFlat AFMIl SuperFlat AFM è un sistema innovativo che combina la potenza della microscopia elettronica a scansione (SEM) con la microscopia a forza atomica (AFM). Questo strumento consente di integrare informazioni sulle dimensioni laterali e sul materiale derivanti dall’ispezione SEM in situ, con dati AFM estremamente precisi sulla topografia e sul coefficiente di attrito del campione. La disponibilità simultanea di dati SEM e AFM apre nuove strade per la caratterizzazione e lo studio dei materiali. Il SuperFlat AFM è un accessorio per microscopia SEM particolarmente utile in scienza dei materiali, nanotecnologia e ingegneria dei materiali avanzati. La combinazione unica di SEM e AFM consente di ottenere un’analisi dettagliata e completa delle proprietà fisiche e chimiche dei campioni, migliorando la comprensione e la caratterizzazione dei materiali.
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