DIFPACK ModulePacchetto di analisi di diffrazione (DIFPACK) per automatizzare l’area di selezione dei modelli di diffrazione elettronica (SAED) e immagini reticolari ad alta risoluzione di campioni cristallini.
AXON SoftwareL’AXON Software è una piattaforma rivoluzionaria progettata per trasformare l’esperienza degli esperimenti in-situ in microscopia elettronica a trasmissione (TEM). Collegando i rivelatori TEM ai sistemi in-situ, AXON ottimizza l’interazione tra hardware e software, migliorando la qualità dei dati e semplificando i flussi di lavoro per utenti di ogni livello.
L’AXON Software è la soluzione ideale per laboratori di scienza dei materiali, chimica avanzata e nanotecnologia, ridefinendo gli standard della microscopia elettronica con una piattaforma innovativa che massimizza le capacità del microscopio e semplifica gli esperimenti in-situ.
DigiScan II SystemIl DigiScan II System di Emme3 offre un controllo avanzato del raggio digitale e strumenti per l’elaborazione delle immagini, progettati per migliorare la qualità fotografica delle immagini digitali acquisite attraverso la microscopia elettronica. Questo sistema consente un’acquisizione di immagini più precisa e una migliore gestione dei dettagli visivi, permettendo un’analisi TEM più dettagliata e accurata dei campioni. È particolarmente utile per chi cerca di ottimizzare la qualità visiva delle immagini per pubblicazioni, ricerche avanzate e documentazione scientifica.
GIF Continuum K3 SystemIl GIF Continuum K3 System è il sistema più avanzato per la spettroscopia di perdita di energia degli elettroni (EELS) e la microscopia elettronica a trasmissione filtrata in energia (EFTEM), progettato per ridefinire le capacità di analisi su scala atomica. Con tecnologia di ultima generazione, questo sistema offre prestazioni spettroscopiche e di imaging senza precedenti, garantendo una risoluzione e una sensibilità eccezionali.
Il GIF Continuum K3 System è il massimo in termini di capacità analitiche per EELS ed EFTEM, progettato per supportare ricerche di frontiera in scienza dei materiali, chimica avanzatae nanotecnologia. Questo sistema combina velocità, precisione e sensibilità per soddisfare le esigenze dei laboratori più avanzati.
Rivelatori STEM AvanzatiI rivelatori STEM avanzati offrono una gamma completa di soluzioni per l’imaging ottimizzato in microscopia elettronica a scansione in trasmissione (STEM), supportando tecniche avanzate come la spettroscopia di perdita di energia degli elettroni (EELS). Dotati di diverse configurazioni per soddisfare esigenze specifiche, questi rivelatori garantiscono risultati di alta precisione e versatilità applicativa.
I rivelatori STEM avanzati rappresentano una scelta indispensabile per laboratori che utilizzano STEM e EELS in microscopia elettronica, garantendo prestazioni eccezionali per imaging ad alta risoluzione e analisi compositiva. Questi strumenti, ideali per l’analisi TEM, permettono di raggiungere nuovi livelli di precisione e dettaglio, rendendoli essenziali per ricerche di frontiera in scienza dei materiali, nanotecnologia e chimica strutturale.
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