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EDAX Orbis II Micro-XRF System – Sistema per l’analisi elementare non distruttiva
EDAX® Orbis™ II di Gatan è un sistema avanzato di micro-fluorescenza a raggi X (Micro-XRF), progettato per eseguire analisi elementari non distruttive su un’ampia varietà di materiali e campioni.
Grazie alla tecnologia Micro-XRF, il sistema consente di identificare e quantificare gli elementi presenti nel campione, ottenendo informazioni dettagliate sulla composizione chimica e sulla loro distribuzione superficiale, senza alterare o danneggiare il materiale analizzato.
L’Orbis II combina un’elevata precisione di analisi, velocità di acquisizione e flessibilità operativa, risultando particolarmente indicato per laboratori di ricerca, controllo qualità e caratterizzazione avanzata dei materiali.
Una delle caratteristiche distintive dell'EDAX Orbis II è il sistema brevettato di posizionamento ottico e analitico, basato su una torretta orbitale (Orbital Turret), che permette di allineare con precisione l'asse ottico dei raggi X con l'immagine del campione acquisita ad alto ingrandimento.
Questa configurazione consente di individuare e analizzare con accuratezza aree specifiche del campione, riducendo le interferenze provenienti dalle zone adiacenti e gli errori di posizionamento.
Il sistema offre dimensioni dello spot analitico regolabili da 2 mm fino a 30 µm, consentendo di passare dall'analisi di aree estese alla caratterizzazione di particolari di dimensioni ridotte.
La sorgente X ad alta intensità, l'elettronica aggiornata e il rivelatore di maggiore superficie contribuiscono a incrementare la velocità di acquisizione e la produttività del laboratorio.
Analisi elementare non distruttiva: identificazione e quantificazione degli elementi senza alterare il campione.
Elevata precisione di posizionamento: tecnologia brevettata Orbital Turret per un allineamento accurato tra visualizzazione ottica e fascio X.
Spot analitico regolabile: dimensioni del fascio da 2 mm a 30 µm per analisi di aree differenti.
Elevata velocità di acquisizione: oltre 1 milione di conteggi al secondo e capacità di elaborazione fino a 450.000 cps, in funzione della configurazione.
Mappatura elementare: visualizzazione della distribuzione degli elementi sulla superficie del campione.
Analisi di campioni complessi: adatto a particelle di piccole dimensioni, materiali stratificati, superfici irregolari e campioni di grandi dimensioni.
Software intuitivo: EDAX Orbis Vision II per acquisizione delle immagini, analisi elementare, mappatura, quantificazione e generazione di report.
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