Micromanipulator for Life Science (MM3A-LS)

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  Force Measurement System (FMS-EM)Il FMS-EM è un sistema compatto di misurazione della forza progettato per integrarsi con il micromanipolatore MM3A-EM. Questo strumento avanzato consente di ampliare le capacità del micromanipolatore, permettendo di eseguire misurazioni di forza e nanoindentazione su piccoli campioni con precisione e facilità. Grazie alla compatibilità con il MM3A-EM si integra perfettamente con il micromanipolatore per offrire una soluzione completa di misurazione e manipolazione a livello microscopico. Ideale per analizzare le proprietà meccaniche e strutturali dei campioni in ambienti di ricerca avanzati e per gli studi su materiali innovativi e applicazioni di microscopia elettronica (SEM), poiché fornisce un controllo dettagliato e dati di alta precisione.

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  Grip (MGS2-EM)

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  Grip (MGS2-EM)Il MGS2-EM è un accessorio per la microscopia SEM, progettato come plug-in di micropinze per il micromanipolatore MM3A-EM. Questo strumento fornisce una soluzione di presa ad alta risoluzione, ideale per il trasporto e l’assemblaggio di oggetti di piccole dimensioni all’interno della camera SEM. Si integra facilmente con il micromanipolatore, ampliando le funzionalità per una manipolazione precisa. Progettato per garantire una presa sicura e precisa, è essenziale per lavori di microassemblaggio e trasferimento di campioni delicati.

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  MM3A-EM Probe Station

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  MM3A-EM Probe Station La MM3A-EM Probe Station è una piattaforma avanzata che integra fino a otto micromanipolatori MM3A-EM, offrendo un controllo e una precisione eccezionali per la microscopia SEM. La stazione è dotata di un substage a lungo raggio con una corsa di 30 mm su X e Y, migliorando la flessibilità di posizionamento del campione. Offre una ripetibilità di 50 nm, garantendo una precisione eccezionale per studi di alta risoluzione. La MM3A-EM Probe Station è un sistema ideale per laboratori di microscopia elettronica a scansione (SEM) che necessitano di una piattaforma completa per nanoprobing e micro-manipolazione. Questo accessorio per microscopia SEM è particolarmente utile per settori come la scienza dei materiali, la microelettronica e la nanotecnologia, dove la precisione e la flessibilità sono fondamentali per esperimenti avanzati e analisi dettagliate.

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  Force Measurement System

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  Force Measurement SystemIl Force Measurement System completa la NanoWorkstation, offrendo una soluzione avanzata per la misurazione della forza su piccoli campioni. Dotato di punte per la misurazione della forza (FMT), il sistema è progettato per eseguire prove precise di trazione e compressione, risultando ideale per studi dettagliati sulle proprietà meccaniche dei materiali. Questo accessorio per la microscopia Sem è particolarmente indicato per laboratori che necessitano di una caratterizzazione dettagliata delle proprietà meccaniche, di materiali innovativi e strutture complesse. Grazie alle sue capacità di misurazione in-situ, il sistema è essenziale per comprendere le risposte dei materiali sotto stress meccanico diretto.