Microscopia elettronica

SuperFlat AFMIl SuperFlat AFM è un sistema innovativo che combina la potenza della microscopia elettronica a scansione (SEM) con la microscopia a forza atomica (AFM). Questo strumento consente di integrare informazioni sulle dimensioni laterali e sul materiale derivanti dall’ispezione SEM in situ, con dati AFM estremamente precisi sulla topografia e sul coefficiente di attrito del campione. La disponibilità simultanea di dati SEM e AFM apre nuove strade per la caratterizzazione e lo studio dei materiali. Il SuperFlat AFM è un accessorio per microscopia SEM particolarmente utile in scienza dei materiali, nanotecnologia e ingegneria dei materiali avanzati. La combinazione unica di SEM e AFM consente di ottenere un’analisi dettagliata e completa delle proprietà fisiche e chimiche dei campioni, migliorando la comprensione e la caratterizzazione dei materiali.

Two MGS2-EM MicrogrippersLa NanoWorkstation è equipaggiata con due micropinze MGS2-EM, progettate per la manipolazione di nanofili, nanotubi di carbonio (CNT) e altri oggetti di dimensioni ridotte. Queste micropinze ad alta precisione consentono una manipolazione accurata e delicata dei campioni, essenziale per applicazioni su scala nanometrica. La doppia configurazione consente una maggiore flessibilità nella manipolazione simultanea di campioni. Perfette per integrarsi con altre funzionalità della piattaforma, migliorando la versatilità della workstation per varie applicazioni SEM. Le micropinze MGS2-EM sono un accessorio per microscopia SEM indispensabile per laboratori che lavorano con nanotecnologia e scienza dei materiali. Ideali per la manipolazione e l’assemblaggio di componenti su scala nanometrica, sono particolarmente utili per l’analisi e la caratterizzazione di nanofili, nanotubi e altri piccoli oggetti che richiedono una gestione precisa e delicata.