Prober Shuttle (PS4)

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  iProbe Module

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  iProbe ModuleL’iProbe Module è un accessorio per la microscopia SEM che offre un controllo avanzato e intuitivo di fino a dodici micromanipolatori su sei ordini di grandezza. Questo software consente un controllo tridimensionale del movimento: il mouse gestisce i movimenti sugli assi X e Y, mentre un jog dial consente di controllare l’asse Z, per un’esperienza di utilizzo fluida e familiare. La risposta al movimento è dinamica, migliorando la sensibilità e la precisione durante la manipolazione dei campioni. Perfetto per settori come la nanotecnologia e la scienza dei materiali, questo modulo fornisce un’esperienza di controllo avanzata e intuitiva, migliorando l’efficienza e la precisione delle operazioni SEM.

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  Heating Illumination Probing Workstation

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  Heating Illumination Probing WorkstationLa HIP WorkStation è una versione avanzata della MM3A-EM Probe Station, dotata di funzionalità aggiuntive di riscaldamento e illuminazione. Come la MM3A-EM, questa workstation supporta fino a otto micromanipolatori MM3A-EM e include un substage a lungo raggio con una corsa di 30 mm nelle direzioni X e Y.
  Per una maggiore precisione, il substage può essere dotato di encoder di posizione con ripetibilità di 50 nm. Altre opzioni sono la possibilità di aggiungere un Asse Z opzionale con un intervallo di corsa di 3 mm, per consentire un posizionamento tridimensionale preciso, oppure la possibilità di sostituirlo con uno stadio di riscaldamento che può raggiungere temperature fino a 450°C, ideale per applicazioni che richiedono un controllo termico diretto sul campione.
  La HIP WorkStation è un accessorio per microscopia SEM utile in esperimenti che richiedono una combinazione di manipolazione, riscaldamento e illuminazione.

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  Fully encoded Prober Shuttle (PS8e)

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  Fully encoded Prober Shuttle (PS8e)Il PS8e Prober Shuttle è un sistema nanoprobe compatto e altamente integrato, riconosciuto come uno dei più avanzati nel mercato. Ora migliorato con encoder posizionali, il PS8e permette di monitorare con precisione la posizione delle sonde, rendendo i flussi di lavoro di nanoprobe più rapidi ed efficienti. Questa capacità di monitorare con precisione le posizioni riduce i tempi di allineamento e migliora l’efficienza complessiva del sistema. Questo accessorio per la microscopia SEM rappresenta una soluzione avanzata per la caratterizzazione e manipolazione nanometrica dei campioni, migliorando significativamente la produttività in ambienti di ricerca e sviluppo.

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  Micro-cleaning System (MCS)

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  Micro-cleaning System (MCS)Il Micro-cleaning System (MCS-EM) è un accessorio per la microscopia SEM costituito da un sistema plug-in di microvalvole progettato per il micromanipolatore MM3A-LMP. È ideale quindi per estendere le funzionalità del micromanipolatore, aggiungendo una capacità di pulizia delicata e controllata. Questo sistema consente infatti la rimozione non distruttiva di particelle indesiderate da superfici delicate, migliorando la qualità delle analisi senza danneggiare i campioni. Il MCS-EM è ideale per laboratori di microscopia elettronica a scansione (SEM) che richiedono una soluzione delicata e precisa per la pulizia dei campioni. È particolarmente utile in applicazioni di scienza dei materiali e nanotecnologia, dove la rimozione accurata di contaminanti è essenziale per garantire un’analisi accurata delle superfici.