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Murano In-Situ Stages
Murano In-Situ StagesI Murano In-Situ Stages sono progettati per la preparazione della superficie a bassa energia, offrendo un metodo ottimale per la visualizzazione di sezioni trasversali in microscopia elettronica a scansione (SEM).
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NanoMotor® for in vivo Applications
NanoMotor® for in vivo ApplicationsIl NanoMotor® è un accessorio per microscopia SEM progettato per supportare le registrazioni su animali in movimento libero, grazie alla sua struttura compatta e robusta. Questo dispositivo è ideale per applicazioni in vivo, dove le sue piccole dimensioni e la precisione estrema sono essenziali per la riuscita degli esperimenti. Il NanoMotor® è ideale per esperimenti in vivo in contesti di neuroscienze e scienze della vita. La sua capacità di operare in spazi ridotti con elevata precisione lo rende uno strumento indispensabile per studi che richiedono manipolazione e misurazioni in situazioni complesse, dove lo spazio e la stabilità sono critici e su campioni biologici vivi.
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OnPoint BSE Detector
OnPoint BSE Detector L’OnPoint BSE Detector è un rivelatore avanzato per elettroni backscattered (BSE), progettato per offrire imaging ad alta velocità e di alta qualità a basso kV in microscopia elettronica a scansione (SEM).
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PECS II System
PECS II SystemIl PECS II System è un sistema avanzato a broad argon ion beam, progettato per la lucidatura e il rivestimento di campioni destinati a tecniche analitiche e di imaging SEM. Questo sistema è fondamentale per la preparativa dei campioni, ottimizzando la loro superficie per l’analisi in microscopia elettronica a scansione.
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Prober Shuttle (PS4)
Prober Shuttle (PS4) Il Prober Shuttle (PS4) è un accessorio per microscopia SEM progettato per il nanoprobing elettrico in-situ con alta precisione. Questo strumento avanzato integra il manipolatore a tre assi MM4, caratterizzato da una stabilità e precisione senza pari, rendendolo ideale per esperimenti dettagliati e misurazioni su scala nanometrica. Alta precisione e stabilità sono garantite dal design compatto e robusto del manipolatore MM4, ideale per il nanoprobing elettrico ad alta risoluzione. Il Prober Shuttle (PS4) è essenziale per laboratori che utilizzano microscopia elettronica a scansione (SEM), particolarmente in scienza dei materiali e nanotecnologia. La sua configurazione modulare e la precisione lo rendono perfetto per studi avanzati di nanoprobing elettrico e per la caratterizzazione di materiali e componenti elettronici su scala nanometrica.
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Prober Shuttle (PS8)
Prober Shuttle (PS8)l Prober Shuttle (PS8) è un accessorio per microscopia SEM progettato per il nanoprobing elettrico in-situ con una precisione estremamente alta, adatto per tecnologie all’avanguardia fino a 7 nm e oltre. Dotato del manipolatore a tre assi MM4 ultrapiatto, il PS8 garantisce una stabilità e una precisione senza pari per le applicazioni più avanzate. Supporta fino a otto manipolatori MM4, consentendo un controllo dettagliato su più punti di contatto. Il Prober Shuttle (PS8) è essenziale per laboratori che lavorano con microscopia elettronica a scansione (SEM), specialmente nelle aree della scienza dei materiali e microelettronica. Grazie alla sua configurazione flessibile e precisione eccezionale, è perfetto per la caratterizzazione elettrica di dispositivi su scala nanometrica e per studi avanzati di nanoprobing in nodi tecnologici di ultima generazione.
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Rotate (RoTip)
Rotate (RoTip)Il RoTip (ROTIP-EM) è un accessorio per microscopia SEM che funge da plug-in per aggiungere un asse di rotazione al micromanipolatore MM3A-EM. Questo strumento estende la capacità di manipolazione del sistema, fornendo un quarto grado di libertà, fondamentale per un ampio ventaglio di applicazioni SEM e FIB. Ideale per applicazioni che richiedono una visualizzazione e manipolazione a 360 gradi, migliora la precisione e la versatilità delle operazioni. Il RoTip (ROTIP-EM) è ideale per laboratori di microscopia elettronica a scansione (SEM) e fascio ionico focalizzato (FIB), offrendo una soluzione avanzata per la rotazione e l’orientamento dei campioni. È particolarmente utile in nanotecnologia, scienza dei materiali e microelettronica, dove è fondamentale ottenere un controllo completo dell’angolazione per un’analisi e una manipolazione accurate.
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SuperFlat AFM
SuperFlat AFMIl SuperFlat AFM è un sistema innovativo che combina la potenza della microscopia elettronica a scansione (SEM) con la microscopia a forza atomica (AFM). Questo strumento consente di integrare informazioni sulle dimensioni laterali e sul materiale derivanti dall’ispezione SEM in situ, con dati AFM estremamente precisi sulla topografia e sul coefficiente di attrito del campione. La disponibilità simultanea di dati SEM e AFM apre nuove strade per la caratterizzazione e lo studio dei materiali. Il SuperFlat AFM è un accessorio per microscopia SEM particolarmente utile in scienza dei materiali, nanotecnologia e ingegneria dei materiali avanzati. La combinazione unica di SEM e AFM consente di ottenere un’analisi dettagliata e completa delle proprietà fisiche e chimiche dei campioni, migliorando la comprensione e la caratterizzazione dei materiali.
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Two MGS2-EM Microgrippers
Two MGS2-EM MicrogrippersLa NanoWorkstation è equipaggiata con due micropinze MGS2-EM, progettate per la manipolazione di nanofili, nanotubi di carbonio (CNT) e altri oggetti di dimensioni ridotte. Queste micropinze ad alta precisione consentono una manipolazione accurata e delicata dei campioni, essenziale per applicazioni su scala nanometrica. La doppia configurazione consente una maggiore flessibilità nella manipolazione simultanea di campioni. Perfette per integrarsi con altre funzionalità della piattaforma, migliorando la versatilità della workstation per varie applicazioni SEM. Le micropinze MGS2-EM sono un accessorio per microscopia SEM indispensabile per laboratori che lavorano con nanotecnologia e scienza dei materiali. Ideali per la manipolazione e l’assemblaggio di componenti su scala nanometrica, sono particolarmente utili per l’analisi e la caratterizzazione di nanofili, nanotubi e altri piccoli oggetti che richiedono una gestione precisa e delicata.
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Two Rotation Tips
Two Rotation TipsLa NanoWorkstation è equipaggiata con due punte rotazionali RoTip-EM, che aggiungono un quarto grado di libertà al micromanipolatore MM3A-EM. Queste punte forniscono un modulo di “rotazione del polso”, che può essere utilizzato in combinazione con la micropinza o con i plug-in di rilevamento della forza, aumentando la flessibilità e il controllo durante la manipolazione. Perfette per operazioni complesse, dove il posizionamento angolare è cruciale per la manipolazione accurata di campioni su scala micro e nanometrica. Le punte rotazionali RoTip-EM sono un accessorio per microscopia SEM ideale per laboratori che necessitano di una manipolazione avanzata e precisa in scienza dei materiali, nanotecnologia e microelettronica. Con la possibilità di combinare le punte con micropinze e strumenti di rilevamento della forza, queste punte rotazionali offrono una versatilità unica per la manipolazione di campioni complessi e fragili.